材料的導電性是由于材料內(nèi)部存在自由電荷來轉(zhuǎn)移電流。這些自由的電荷通常被稱為載流子。它們可以是電子、空穴或正負離子。在弱電場的作用下，材料的載流子遷移導致導電。材料的電導率通常用與尺寸無關(guān)的電阻率或電導率來表示，體積電阻率和表面電阻率是表示材料電導率的一種方式。隨著電子設(shè)備的不斷更新?lián)Q代，對基礎(chǔ)材料的絕緣性能要求越來越高。老一代設(shè)備在測試精度和測試范圍方面越來越笨拙。高阻計的出現(xiàn)將電阻測試的精度和范圍提高到了一個新的高度。
 

　　高阻計提供了良好的測量功能，可滿足大部分場景的微弱電流測量需求。針對不同的測試對象和測試環(huán)境，提供各種適配的配件。帶有顯示器，使操作更直觀便捷，提供多種視圖模式以便用戶觀察數(shù)據(jù)，除數(shù)字格式外，測量數(shù)據(jù)還可以轉(zhuǎn)換為直方圖及趨勢圖，使用戶能即時查看測量數(shù)據(jù)的分布規(guī)律或變化趨勢。
 

　　高阻計的應用領(lǐng)域：
 

　　1.材料特征測試：半導體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機材料等；
 

　　2.電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試：電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關(guān)、繼電器等；
 

　　3.電子/非電子系統(tǒng)：離子束、電子束、傳感系統(tǒng)、粒子測量、嵌入式精密儀器等；
 

　　4.半導體和其它器件I-V特性測試；
 

　　5.體電阻/表面電阻率測量。